【透射电镜和扫描电镜的区别是什么】透射电镜（Transmission Electron Microscope, TEM）与扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是两种常见的电子显微镜，它们在原理、成像方式、应用场景等方面存在显著差异。以下是两者的主要区别总结。
一、
透射电镜和扫描电镜虽然都属于电子显微镜的范畴，但它们的工作原理和应用方向有所不同。透射电镜主要用于观察样品的内部结构，如细胞器、晶体结构等，它通过让电子束穿透薄样品来形成图像；而扫描电镜则主要用来观察样品表面的微观形貌，通过扫描样品表面并检测反射或二次电子来生成图像。
此外，透射电镜对样品的厚度要求较高，通常需要制备非常薄的样品，而扫描电镜对样品的制备相对简单，可以观察较厚的样品。在分辨率方面，透射电镜通常具有更高的分辨率，适合研究原子级别的结构；而扫描电镜更适用于表面形貌的观察。
二、对比表格
| 项目 | 透射电镜（TEM） | 扫描电镜（SEM） |
| 工作原理 | 电子束穿透薄样品，形成图像 | 电子束扫描样品表面，检测反射或二次电子 |
| 成像方式 | 二维投影图像，显示内部结构 | 三维立体图像，显示表面形貌 |
| 分辨率 | 高，可达0.1 nm以下 | 中等，一般为1-20 nm |
| 样品厚度 | 非常薄（通常小于100 nm） | 较厚，可观察毫米级样品 |
| 样品制备 | 要求高，需超薄切片、离子减薄等 | 相对简单，可直接观察或镀膜处理 |
| 应用领域 | 材料科学、生物学、纳米技术、晶体结构分析 | 表面形貌分析、材料表征、地质学、生物医学 |
| 图像颜色 | 黑白（可配色） | 黑白（可配色） |
| 设备复杂度 | 较高，操作复杂 | 相对简单，操作便捷 |
通过以上对比可以看出，透射电镜和扫描电镜各有优势，选择使用哪种仪器取决于研究目的和样品特性。在实际应用中，两者常常结合使用，以获得更全面的样品信息。